Theo một nghiên cứu đăng trên tạp chí National Academy of Science, chụp cắt lớp não đơn giản có thể dự đoán được khi nào những trẻ mù chữ biết đọc.
Những rối loạn về não khiến trẻ em, kể cả những bé rất thông minh, gặp khó khăn trong học đọc và có thể là khởi nguồn các thất bại sau này. Nhưng theo nghiên cứu trên, chụp cắt lớp não có thể dự đoán được sự phát triển kỹ năng đọc của thanh thiếu niên với độ chính xác lên tới 90%.
Một trong những tác giả nghiên cứu trên, giáo sư Bruce McCandliss thuộc trường Đại học Vanderbilt nói: “Nghiên cứu này là bước tiến quan trọng trong việc phát hiện các lợi ích tiềm năng nhờ sự kết hợp giữa khoa học neuro thần kinh và nghiên cứu giáo dục bằng cách chỉ ra làm thế nào những biện pháp chụp cắt lớp não nhạy cảm với những khác biệt cá nhân, từ đó dự đoán những kỹ năng liên quan đến giáo dục sau này.
Các nhà nghiên cứu trên đã phát hiện các kết quả chụp cắt lớp não cho thấy độ chính xác hơn đáng kể trong dự đoán thời điểm một trẻ mù chữ biết đọc thành thạo so với các phương pháp kiểm tra đọc chuẩn hay hành vi của trẻ.
Giáo sư Bruce cho rằng nghiên cứu trên đưa ra triển vọng về một phương pháp kiểm tra tương lai có thể giúp các học sinh mắc chứng khó đọc tiếp cận được những cách chữa trị hiệu quả nhất.
Nghiên cứu này được thực hiện với sự công tác của các chuyên gia đến từ trường Y thuộc Đại học Stanford, các nhà nghiên cứu thuộc Viện Công nghệ Massachusetts, Đại học Jyvaskyla của Phần Lan và Đại học York của Anh./.
Những rối loạn về não khiến trẻ em, kể cả những bé rất thông minh, gặp khó khăn trong học đọc và có thể là khởi nguồn các thất bại sau này. Nhưng theo nghiên cứu trên, chụp cắt lớp não có thể dự đoán được sự phát triển kỹ năng đọc của thanh thiếu niên với độ chính xác lên tới 90%.
Một trong những tác giả nghiên cứu trên, giáo sư Bruce McCandliss thuộc trường Đại học Vanderbilt nói: “Nghiên cứu này là bước tiến quan trọng trong việc phát hiện các lợi ích tiềm năng nhờ sự kết hợp giữa khoa học neuro thần kinh và nghiên cứu giáo dục bằng cách chỉ ra làm thế nào những biện pháp chụp cắt lớp não nhạy cảm với những khác biệt cá nhân, từ đó dự đoán những kỹ năng liên quan đến giáo dục sau này.
Các nhà nghiên cứu trên đã phát hiện các kết quả chụp cắt lớp não cho thấy độ chính xác hơn đáng kể trong dự đoán thời điểm một trẻ mù chữ biết đọc thành thạo so với các phương pháp kiểm tra đọc chuẩn hay hành vi của trẻ.
Giáo sư Bruce cho rằng nghiên cứu trên đưa ra triển vọng về một phương pháp kiểm tra tương lai có thể giúp các học sinh mắc chứng khó đọc tiếp cận được những cách chữa trị hiệu quả nhất.
Nghiên cứu này được thực hiện với sự công tác của các chuyên gia đến từ trường Y thuộc Đại học Stanford, các nhà nghiên cứu thuộc Viện Công nghệ Massachusetts, Đại học Jyvaskyla của Phần Lan và Đại học York của Anh./.
Anh Minh (Vietnam+)